α能譜測量基于衰變過程中發(fā)射的α粒子來識(shí)別和量化放射性核素。 與γ能譜測量類似，能譜由高精度探測器和電子學(xué)組成，并使用特殊軟件進(jìn)行分析。 在許多γ能譜測量測量中，由譜分析軟件校正這些干擾的復(fù)雜性。通常在化學(xué)分離之后測量樣品以分離相關(guān)放射性核素。

α能譜測量是一種廣泛用于以下應(yīng)用的技術(shù)，例如：

• 環(huán)境放射性監(jiān)測
• 保健物理學(xué)人員監(jiān)測
• 核燃料循環(huán)處理
• 核法證學(xué)
• 材料測試
• 地質(zhì)與礦物學(xué)
• 放射性藥物；
• 天然放射性物質(zhì)（天然及其衍生）

完整的α能譜測量系統(tǒng)包括：

• 帶電粒子探測器具有適合應(yīng)用的高分辨率、低本底和探測效率。
• 真空室用于確保α粒子可以到達(dá)探測器，因?yàn)樗鼈兒苋菀妆豢諝馑p。
• 反沖抑制組件（RCAP）可防止探測器被可能殘留樣品材料的放射性子體污染。
• 用于探測器信號處理和存儲(chǔ)能量數(shù)據(jù)的電子設(shè)備。
• 用于控制電子設(shè)備、分析譜、建立質(zhì)量控制流程以及將數(shù)據(jù)與實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)集成的分析軟件。

無論是核電實(shí)驗(yàn)室、放射化學(xué)實(shí)驗(yàn)室、連續(xù)空氣監(jiān)測（CAM）還是研究應(yīng)用，ORTEC都能提供合適的α能譜測量解決方案。